pcb caf測試、Caf、離子遷移在PTT/mobile01評價與討論，在ptt社群跟網路上大家這樣說
pcb caf測試關鍵字相關的推薦文章
pcb caf測試在CAF(電路板內微短路)形成的可能原因與改善對策 - 工作狂人的討論與評價
公司的產品曾經發生過【電路板內層微短路現象】，經追查後發現是CAF(Conductive Anodic Filament)所造成，中文稱之為「導電性陽極細絲物」或「陽極性玻璃纖維絲漏電 ...
pcb caf測試在高電壓CAF測試及失效分析 - 德凱宜特DEKRA iST的討論與評價
近年來因電子行動產品的普及化及物聯網的崛起，車用電子為2016年起最熱門的發燒話題之一，國內、外各相關產業無不積極搶食此塊大餅。印刷電路板(PCB)不僅是電子零組件 ...
pcb caf測試在PCB透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗的討論與評價
PCB 透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗 ... 現今薄型手機或其他更輕薄短小的攜帶型電子產品，都是PCB的技術提升才有辦法達到，在產品的日新月異下相關可靠度測試條件 ...
pcb caf測試在ptt上的文章推薦目錄
pcb caf測試在CAF測試導電陽極絲測試的討論與評價
導電陽極絲（CAF）測試有助於確定印刷電路板（PCB）層壓材料或成品的可靠性。 隨著導體間距和零件總尺寸的變小，對該測試的需求增加。 ... CAF測試是在高溫和高濕度條件（ ...
pcb caf測試在可靠度測試服務(RA) - MA-tek 閎康科技的討論與評價
離子遷移測試（Electrochemical Migration）可提供500V 電壓能力，對印刷電路板表面絕緣阻抗測試（SIR，Surface Insulation Resistance）或導電性陽極細絲（CAF， ...
pcb caf測試在PCB CAF (電路板微短路)形成的可能原因與改善對策 - 大大通的討論與評價
PCB CAF : 當PCB在高溫高濕的環境中帶電運行，兩絕緣線路間可能會產生嚴重的CAF現象，此現象最將最終導致線路間有阻抗甚至短路不良，造成電子零件勿 ...
pcb caf測試在PCB线路板CAF离子迁移实验及标准 - 知乎专栏的討論與評價
CAF测试 通过监控测试单元的电阻，当CAF发生时，绝缘层的绝缘性能下降，电阻也随之下降，由此可判断CAF的失效。 网络图片. 测试标准：IPC-TM-650 2.6.3印刷 ...
pcb caf測試在pcb caf 測試的討論與評價
PCB 透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗. 說明： PCB為確保其長時間使用品質與可靠度，需進行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣電阻的試驗，透過其試驗 ...
pcb caf測試在CAF 試驗 - 軟體兄弟的討論與評價
CAF 試驗,2015年8月12日— CAF其實就是電路板內層或防焊綠漆層內的微短路現象。 因為這個問題一直... 試驗時最好要隨時監控，而不是等做完了才量測。 所以，一旦測試 ...
pcb caf測試在CN103728512A - 可靠性测试板及pcb板孔间caf失效分析方法的討論與評價
本发明公开了一种可靠性测试板及基于该可靠性测试板进行的PCB板孔间CAF失效分析方法，所述方法包括以下步骤：提供一种可靠性测试板，并通过分半测试法在可靠性测试板上 ...