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caf電路板、pcb短路、PCB板材在PTT/mobile01評價與討論,在ptt社群跟網路上大家這樣說

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caf電路板在CAF(電路板內微短路)形成的可能原因與改善對策| 電子製造的討論與評價

公司的產品曾經發生過【電路板內層微短路現象】,經追查後發現是CAF(Conductive Anodic Filament)所造成,中文稱之為「導電性陽極細絲物」或「陽極性 ...

caf電路板在電路板內層微短路現象(CAF,Conductive Anodic Filament)的討論與評價

CAF 發生的原因是PCB內相鄰的兩點(線路或通孔或分層)由於電位差(Bias)加上濕氣(Moisture)的環境助長,讓導電性物質(Cu 2+ )沿著玻璃纖維布(PP)的間隙從陽極 ...

caf電路板在PCB CAF (電路板微短路)形成的可能原因與改善對策的討論與評價

CAF 定義: Conductive Anodicn Failamentation,導電離子遷移是指從陽極(高電壓)延著玻纖絲間的微裂通道,往陰極(低電壓)路途中發生銅與銅鹽的漏電行為。

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    caf電路板在高電壓CAF測試及失效分析的討論與評價

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    caf電路板在PCB透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗的討論與評價

    說明:PCB為確保其長時間使用品質與可靠度,需進行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣電阻的試驗,透過其試驗方式找出PCB是否會發生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗 ...

    caf電路板在什麼是CAF電路板內層微短路? - YouTube的討論與評價

    ... 電路板 內層或是綠漆底下微短路的一種現象。 相關部落格文章: 🛠️ 電路板 內層微短路現象( CAF, Conductive Anodic Filament) https://www.researchmfg ...

    caf電路板在PCB微短路形成的可能原因的討論與評價

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    caf電路板在PCB透過HAST進行離子遷移與CAF的加速試驗的討論與評價

    PCB 為確保其長時間使用品質與可靠度,需進行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣電阻的試驗,透過其試驗方式找出PCB是否會發生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗陽極性 ...

    caf電路板在什么是CAF - 硬见的討論與評價

    电路板 的通孔、线路尺寸位置与堆栈结构设计对CAF也会产生绝对性的影响,因为所有的要求几乎都来自设计。 随着产品越做越小,电路板的密度也越来越高,但是PCB制程能力 ...

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